試驗箱系列
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試驗箱系列
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CJS系列三箱換氣式溫沖


      該產品適用于電子元器件的安全性能測試提供可靠性試驗、產品篩選試驗等,同時通過此裝備試驗,可提高產品的可靠性和進行產品的質量控制。


三箱式:高溫區、低溫區、測試區三部分,測試產品置于測試區,沖擊時高溫區或低溫區的溫度沖入測試區進行沖擊, 測試產品為靜態









型號

CJS-02

CJS-03

CJS-05

 

 

 

 

 

 

 



預熱室

預熱溫度上限

200℃

溫度上升時間

+20~+200℃約20min

預冷室

預冷溫度下限

-75℃

溫度下降時間

+20~-70℃約80min

工作室

溫度沖擊范圍

(-55℃~-10)~(50~+150℃)

溫度波動度

≤±0.5℃

溫度偏差

≤±2℃

溫度回復時間

≤5min

 
 溫
 
 
 
 
 

CJS-02

條件一

高溫+125℃暴露30min,低溫-40℃暴露30min,樣品重量10Kg塑封IC

條件二

高溫+150℃暴露30min,環境溫度5min,低溫-55℃暴露30min,樣品重量10Kg塑封IC。

CJS-02

條件一

高溫+125℃暴露30min,低溫-40℃暴露30min,樣品重量20Kg塑封IC

條件二

高溫+150℃暴露30min,環境溫度5min,低溫-55℃暴露30min,樣品重量20Kg塑封IC。

條件三

高溫+150℃暴露30min,低溫-55℃暴露30min,樣品重量7.5Kg塑封IC。

CJS-03

條件一

高溫+125℃暴露30min,低溫-40℃暴露30min,樣品重量10Kg塑封IC。

條件二

高溫+150℃暴露30min,環境溫度5min,低溫-55℃暴露30min,樣品重量10Kg塑封IC。

CJS-03

條件一

高溫+125℃暴露30min,低溫-40℃暴露30min,樣品重量20Kg塑封IC。

條件二

高溫+150℃暴露30min,環境溫度5min,低溫-55℃暴露30min,樣品重量20Kg塑封IC

條件三

高溫+150℃暴露30min,低溫-55℃暴露30min,樣品重量10Kg塑封IC。

CJS-05

條件一

 高溫+125℃暴露30min,低溫-40℃暴露30min,樣品重量10Kg塑封IC。

條件二

高溫+150℃暴露30min,環境溫度5min,低溫-55℃暴露30min,樣品重量10Kg塑封IC。

CJS-05

條件一

高溫+125℃暴露30min,低溫-40℃暴露30min,樣品重量20Kg塑封IC。

條件二

高溫+150℃暴露30min,環境溫度5min,低溫-55℃暴露30min,樣品重量20Kg塑封IC。

條件三

高溫+150℃暴露30min,低溫-55℃暴露30min,樣品重量10Kg塑封IC。


外殼

 冷軋鋼板表面噴塑

內膽

不銹鋼板

隔熱材料

聚氨酯發泡+超細玻璃棉


制冷方式

復疊式雙級壓縮機制冷方式(水冷)

制冷機

進口壓縮機

測試孔

左側Φ50mm1個

控制器

PLC控制器、彩色液晶顯示觸摸屏

記錄裝置/電腦接口

微型打印機/ RS485接口、RS232轉換線(選配)

工作室尺寸(mm)

D×W ×H

670×650×460

670×970×460

670×970×780

外部尺寸(mm)

D×W ×H

2245×1610×1995

2245×1940×1995

2245×1940×2315

裝機功率(KW)

I/ II

35/ 46

48/56

50/56

   電源

 AC380V/50Hz三相四線制+接地線

標準配置

產品使用說明書1份、試驗報告1份、合格證及質量保證書各1份、打印紙5只、

擱板2塊、擱條4根、色帶1只、硅橡膠軟塞一套,帶腳輪

滿足標準

GJB150.5

注: 水冷型(水溫10~28℃,水壓0.1~0.3Mpa,以便確保降溫性能);

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